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CC-UV | 余弦校正器


余弦校正器 
        闻奕光电的余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。
        CC-UV余弦校正器的有效面积为4.8mm,采用进口PTFE材料,可用于波长范围200~2500nm。余弦校正器都可以和任何SMA接头的多模光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量太阳辐射、环境光、灯光、以及对LED光源和激光光源进行分析。
外形尺寸:6.35mm OD
波长范围:200~2500nm
接口:SMA905
视场:180°

特点: 

CC-UV 余弦校正器的设计是用于与SMA905光纤连接的。用于相对光谱强度和绝对光谱强度测量、发射光谱测量,以及对LED光源和激光光源进行分析。 

散射材料:UV-VIS或VIS-NIR 

余弦校正器的散射材料可以是一个薄的乳白色的、 Spectralon (200-2500 nm) ,位于产品的末端。


型号: CC-UV CC-UV-1 CC-3
光学漫射器: Spectralon  Spectralon 乳白玻璃
波长范围: 200-2500 nm 200-2500 nm 350-1000 nm
尺寸(外径): 6.35 mm 6.35 mm 6.35 mm
长度(外部): 14.5mm 14.5mm 14.5mm
漫射器(直径): 4900 µm 4900 µm 4900 µm
漫射器(厚度): 500 µm 1000 µm 1000 µm
视场角: 180° 180° 180°
可连接: SMA905接头的光纤 SMA905接头的光纤 SMA905接头的光纤


    闻奕光电的余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。




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品牌: wyoptics                                              货号: CC-UV

装修及施工内容: 闻奕光电                              外形尺寸:6.35mm OD

波长范围:200~2500nm                               接口:SMA905视场:180°




 余弦校正器辐照探测 

上海闻奕光电CC-UV余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。

       CC-UV余弦校正器的有效面积为4.0mm,采用进口Spectralon漫射材料,可以对紫外/可见/近红外光谱范围(200-2500nm)进行检测,CC-UV可以通过SMA接头的光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。



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闻奕光电的余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。 

        CC-UV余弦校正器的有效面积为4.8mm,采用进口PTFE材料,可用于波长范围200~2500nm。余弦校正器都可以和任何SMA接头的多模光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量太阳辐射、环境光、灯光、以及对LED光源和激光光源进行分析。


闻奕光电的余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。 

CC-UV余弦校正器的有效面积为4.8mm,采用进口PTFE材料,可用于波长范围200~2500nm。余弦校正器都可以和任何SMA接头的多模光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量太阳辐射、环境光、灯光、以及对LED光源和激光光源进行分析。