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FS | 反射测量支架-系列

上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 

闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量,通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 

闻奕光电利用这些配置丰富的设备,就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源,具有非常好的灵活性和实用性。

FS系列反射支架型号选择:


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FS-TA型实物图:


上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。

闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量,通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

闻奕光电利用这些配置丰富的设备,就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源,具有非常好的灵活性和实用性。



 FS反射支架光谱测量系统 

闻奕光电FS系列反射支架搭配闻奕光电石英光纤及光学光源,光纤光谱仪等租成反射光谱测量应用系统:




 



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上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。


上海闻奕光电科技有限公司生产的微型光学反射率测试平台具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。

反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量,通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

闻奕光电利用这些配置丰富的设备,就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源,具有非常好的灵活性和实用性。